产品介绍
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仪器用途
LW200-4JT适用于厂矿企业、高等院校及科研机构作金相、岩相、矿相等材料表面组织结构的薄片观察检测。也可用于电子工业部门作晶体，金属陶瓷、印刷电路、LCD基板、薄膜、纤维、颗粒状物体、镀层等材料表面的结构、芯片及新材料等方面的检验与分析。
采用进口光学镜片，独有的100X干镜可媲美国外同类产品,为国内市场配置高端的产品.
主要技术参数：
1．三目镜筒： 倾斜45 °可旋转360 °
瞳距55mm-75mm，视度±5°
辅助倍数1.25X
2．高眼点目镜：PLAN10X/20mm
3．平场物镜: 4X、10X、40X（S）、100X(S，oil)
4．总放大倍数：50X-1250X
5．双层载物台：尺寸160mm*140mm，
移动范围 75*50mm
6．聚焦镜：可调式阿贝聚焦镜NA1.25
孔镜可变光栏和视场光阑 滤色片座
7．调 焦 ：同轴粗微动调焦 升降范围25mm
微动格值0.002mm
8. 光 源：柯勒照明，正交偏振装置，滤色片（绿、黄、磨砂），反射光可调卤素灯12V50W，
透射光可调卤素灯12V20W
选购件:
1、目镜 WF16X/11mm、WF20X/9mm,10可调带尺目镜
2、物镜：PL5X、PLL20X、PLL50X、PLL60X、PLL80X、 PLL100X(干镜) 3、摄像系统：数字彩色摄像头,数码相机 4、金相分析软件，测量软件等
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