LW200-4JT适用于厂矿企业、高等院校及科研机构作金相、岩相、矿相等材料表面组织结构的薄片观察检测。也可用于电子工业部门作晶体，金属陶瓷、印刷电路、LCD基板、薄膜、纤维、颗粒状物体、镀层等材料表面的结构、芯片及新材料等方面的检验与分析。
采用进口光学镜片，独有的100X干镜可媲美国外同类产品,为国内市场配置高端的产品。
技术指标：
三目镜筒 | 倾斜45 °可旋转360 °瞳距55mm-75mm，视度±5°辅助倍数1.25X |
高眼点目镜 | PLAN10X/20mm |
平场物镜 | 4X、10X、40X（S）、100X(S，oil) |
总放大倍数 | 50X-1250X |
双层载物台 | 尺寸160mm*140mm、移动范围 75*50mm |
聚焦镜 | 可调式阿贝聚焦镜NA1.25孔镜可变光栏和视场光阑 滤色片座 |
调 焦 | 同轴粗微动调焦 升降范围25mm、微动格值0.002mm |
光 源 | 柯勒照明，正交偏振装置，滤色片（绿、黄、磨砂），反射光可调卤素灯12V50W，透射光可调卤素灯12V20W |
选购件 | 目镜 WF16X/11mm、WF20X/9mm,10可调带尺目镜 |
物镜：PL5X、PLL20X、PLL50X、PLL60X、PLL80X、 PLL100X(干镜) | |
摄像系统：数字彩色摄像头,数码相机 | |
金相分析软件，测量软件等 |
