倒置型 LWD200-4XI 金相显微镜适用于金相学、冶金学专业实验室的研究。并广泛应用于集成电路IC行业、电子半导体业。也可用于鉴别和分析各种金属和合金的组织结构，可广泛地应用在工厂或实验室进行铸件质量的鉴定，原材料的检验或对材料处理后金相的研究分析等工作。本仪器可配用摄影装置进行显微摄影。
技术指标：
单目镜筒 | 倾斜60 °，瞳距55mm-75mm 视度±5° |
平场目镜 | 10X/18mm、12.5X/15mm带0.1mm刻度十字分划板目镜WF10X |
消色差物镜 | 4X、10X、、100X（S、O） |
金相平场消色差物镜 | 40X(S) |
总放大倍数 | 40X-1250X |
载物台 | 尺寸200mm*180mm、带两块载物盘 Ø10和Ø20mm移动范围：70*50mm |
调 焦 | 粗微动同轴 升降范围25mm微动格值0.002mm，手轮松紧可调节 |
聚焦镜 | 柯勒照明 ,滤色片（带蓝、绿、黄三块滤色片） |
光 源 | 可调卤素灯 6V20W |
